목록 게시판 리스트 옵션 검색 FinFET의 Bipolar AC Stress에 의한 Reliability 특성 Conference 23rd Korean Conference on Semiconductors(KCS) Author 강수철, 김용훈, 정욱진, 박우진, 김승모, 이병훈 Year 2016 Date 2016, Best poster award 학회구분 Domestic File 2016_KCS_KSC.pdf (5.0M) 1회 다운로드 DATE : 2021-04-04 13:23:14
