연속적인 펄스를 이용한 Graphene channel MOSFETs 결함의 전기적 분석방법 연구
Conference
20th Korean Conference on Semiconductors(KCS)
Author
정욱진, 김진주, 이재은, 이영곤, 김용훈, 강창구, 장경은, 이병훈
Year
2013
Date
2013
학회구분
Domestic
File
2013_KCS_JUJ.pdf (3.0M) 1회 다운로드 DATE : 2021-04-02 14:36:44