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2014
2

"반도체 장치의 검사방법및 이에 사용되는 프로빙 어셈블리" Byoung Hun Lee, Yong Hun Kim, Young Gon Lee, 2013-0120988, 국외, 2014 (사사: SAMSUNG System LSI, IB-201305-020-1-US0, 과기원관리번호: IP12110705).
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"그래핀 포토디텍터 및 그 제조 방법 (Graphene photodetector with Al2O3 passivation layer)" Chang Goo Kang, Sang Kyung Lee, Byoung Hun Lee, 2014-0002154, 국내, 출원 2014 (사사:미래융합파이오니어, 글로벌프론티어).

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