목록 게시판 리스트 옵션 검색 반도체 장치의 검사 방법 및 이에 사용되는 프로빙 어셈블리 Inventor Yong Hun Kim, Young Gon Lee, Byoung Hun Lee No. 10-2013-0120988 출원국가 국내 상태 출원 Year 2013 Date 2013 (사사: 삼성전자 System LSI)
