목록 반도체 장치의 검사방법및 이에 사용되는 프로빙 어셈블리 Inventor Byoung Hun Lee, Yong Hun Kim, Young Gon Lee No. 2013-0120988 출원국가 국외 Year 2014 Date 2014 (사사: SAMSUNG System LSI, IB-201305-020-1-US0, 과기원관리번호: IP12110705)
